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11월 4일 (수)양자 뉴스·논문·데이터를 매일 검증해 한국어로 전합니다
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NIST News · 양자센싱
미국 국립표준기술연구소(NIST) 연구팀이 초전도 기반 양자센서 배열을 이용해 우라늄·플루토늄·넵투늄의 X선 방출 에너지를 기존보다 최대 8분의 1 수준의 불확도로 측정하는 데 성공했다. 해당 연구는 2026년 9월 10일 Physical Review Letters에 게재됐으며, 국제 핵물질 안전조치(safeguards) 이행에 직접 기여할 수 있는 결과로 평가된다.
2026년 9월 10일