보안악용 확인 · 악용 확률 · 한국어 권고
● CISA KEV 미등재

CVE-2026-78116

The Broadcom AFBR-S50 time-of-flight sensor driver double-completes an RTIO submission when sensor data evaluation fails. In data_ready_work_handler() (drivers/sensor/broadcom/afbr_s50/afbr_s50.c), a …

보통5.2악용 확률 0.21%CWE-415공개 2026-10-21
5.227CWE-415

📌 이 취약점에 대해 확인된 사실

전부 발행처가 발표한 값입니다. 우리가 계산하거나 판단한 숫자는 하나도 없습니다.

악용 여부

CISA KEV 목록에 없습니다. 악용이 없다는 증명이 아니라, 미국 정부가 악용을 확인해 등재한 적이 없다는 뜻입니다.

심각도 (발행처 발표값)

보통5.2

CVSS 버전3.1
평가 기관vulnerabilities@zephyrproject.org

CVSS:3.1/AV:P/AC:L/PR:N/UI:N/S:U/C:N/I:L/A:H

악용 확률 (EPSS)

0.2%

30일 내 악용 확률0.21%
전체 CVE 중 백분위10.6%
기준일2026-10-27

🇰🇷 한국어 공식 권고

KISA 보호나라 권고문 본문에서 이 CVE 번호가 발견된 문서입니다.

전체 권고 ›
이 CVE 를 다룬 KISA 보호나라 권고를 아직 찾지 못했습니다. 권고가 없다는 확증은 아닙니다 — 우리는 RSS 로 공개된 최근 공지만 수집합니다.

📄 원문 그대로

아래 문장은 전부 발행처가 쓴 것입니다. 번역하지 않습니다 — 보안 문서의 오역은 조치를 바꿉니다.

취약점 설명 (NVD)

The Broadcom AFBR-S50 time-of-flight sensor driver double-completes an RTIO submission when sensor data evaluation fails. In data_ready_work_handler() (drivers/sensor/broadcom/afbr_s50/afbr_s50.c), a non-STATUS_OK return from Argus_EvaluateData() calls handle_error_on_result(), which finalises the request with rtio_iodev_sqe_err(), but execution then fell through to the tail of the function and finalised the very same struct rtio_iodev_sqe a second time with rtio_iodev_sqe_ok(). Unlike the other error branches in the same function, this one did not return. Both completion helpers reach rtio_executor_done() in subsys/rtio/rtio_executor.c, which returns the submission to the pool via rtio_sqe_pool_free() and, for streaming (multishot) submissions, also releases the RX buffer with rtio_release_buffer(). The second completion therefore reads a freed rtio_iodev_sqe, pushes the same mpsc node onto the submission queue while it is already on the pool free list — splicing the two lists together — and re-submits the freed request so the next measurement is written through an already-released buffer. For one-shot submissions it emits a spurious success completion carrying stale userdata and frees the same pool entry twice. The failure branch is driven by sensor conditions rather than by host software. The vendor API documents statuses such as ERROR_ARGUS_BIAS_VOLTAGE_REINIT and ERROR_ARGUS_LASER_MONITOR_INACTIVE as transient results of harsh ambient light, so a party in front of the optical sensor can provoke the invalid-data condition without any physical contact with the board or any software access; SPI transfer errors reach the same branch. In releases before the payload.Status check was dropped, ordinary sharp distance transitions in the sensor's field of view were sufficient. Impact is corruption of the RTIO submission pool and mempool bookkeeping: aliased submissions, writes through released buffers, and duplicate completions delivered to the application. The attacker does not control the corrupted content, so the practical consequence is memory corruption and loss of availability on devices that instantiate brcm,afbr-s50, rather than directed code execution. Only builds that enable this driver are affected.

약점 유형(CWE):CWE-415

참조 문서 2건 · NVD 분석 상태 Awaiting Analysis · 수집 2026-10-23

참고

이 취약점은 CISA KEV 에 등재되지 않아 CISA 원문이 없습니다. 영향 범위와 패치 버전은 제품 버전·구성에 따라 다르므로 반드시 공급사 공식 권고와 NVD 원문의 참조 링크를 확인하세요.

악용 확률 변화

우리가 매일 저장한 EPSS 스냅샷입니다. 원본은 전날 값만 주므로, 이 표는 수집을 시작한 이후만 보여줍니다.

기준일확률백분위
2026-10-270.21%10.6%
2026-10-260.21%10.6%
2026-10-250.21%10.6%
2026-10-240.17%6.0%
2026-10-230.17%6.0%
이 페이지는 조치 지시가 아닙니다. 영향 범위와 패치 버전은 제품·구성에 따라 다르므로, 반드시 공급사 공식 권고와 NVD 원문의 참조 링크를 확인하세요.