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AI 연구

인터엑스, 제조 불량 원인 찾는 AI 논문 IEEE TII 등재

전자신문 SW·2026-10-08

요약

AI전환·자율제조 전문기업 인터엑스는 정찬영 선임연구원과 정하일 CTO가 참여한 논문 'SegMIL: Long-Term Time Series Data Classification'이 산업 AI 분야 국제 학술지 IEEE TII(IEEE Transactions on Industrial Informatics)에 게재됐다고 밝혔다. 이 연구는 제조 현장에서 초 단위로 쌓이는 공정 데이터 중 불량 원인이 되는 짧은 구간을 찾아내는 시계열 분류 방법을 다룬다.

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제조 현장의 긴 시계열 데이터에서 불량 원인이 되는 짧은 구간을 특정하는 기법으로, 품질관리 자동화에 적용될 수 있는 연구다.

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